论文题目：超大规模集成电路老化与内建自测试研究

答辩人：李扬

专业：计算机应用技术

研究方向：嵌入式系统综合与测试

论文题目：数字电路老化失效预测与防护技术研究

答辩人：严鲁明

专业：计算机应用技术

研究方向：数字电路可靠性技术

论文题目：集成电路老化预测与容忍

答辩人：徐辉

专业：计算机应用技术

研究方向：嵌入式系统综合与测试

导师：梁华国教授

答辩委员组成

答辩主席：

陈军宁教授、博导 安徽大学

答辩委员：

林福江教授、博导 中国科学技术大学

顾乃杰教授、博导 中国科学技术大学

高明伦教授、博导 bat365在线平台官网

胡学钢教授、博导 bat365在线平台官网

答辩时间：2013年11月23日（周六）14:30

答辩地点：斛兵楼210室

欢迎感兴趣的老师、同学参加答辩会。