10月4日下午3：00，由bat365在线平台官网主办的，李晓维主讲的“大规模集成电路先进测试技术报告”在逸夫楼1206举行。bat365在线平台官网副院长王浩教授主持此次报告会。

2：30左右，报告会现场就坐满了对此项技术感兴趣的师生。王院长对李晓维的简介拉开了报告会的序幕。李晓维教授1985年毕业于bat365在线平台官网计算机与信息系计算机应用技术专业毕业，获学士学位，1988年本校计算应用技术专业硕士研究生毕业，1991年中科院计算技术研究所博士研究生毕业，现为中科院计算技术研究所研究员，博士生导师，任先进测试实验室主任，发表学术期刊及国际会议论文130多篇，发明专利1项，软件技术登记12项，曾获“中科院自然科学奖”，“中科院杰出成绩奖”。在六十年校庆之际，他特以此报告为母校献礼。

随后，报告会正式开始。报告包括三方面内容：（1）现代集成电路测试技术。提出将功能测试与结构测试的结合，以改进该项技术。二、龙芯CPU验证测试。当前CPU无处不在，如家电、手机、电脑、掌上机等，它可以衡量现代化标准之一。报告对龙芯1号、龙芯2号CPU芯片进行了图片展示及各项性能比较。同时介绍了在龙芯CPU测试中，如何借鉴外国先进技术，提高芯片的自修复功能。三、从缺陷检测到缺陷容忍。该项研究以973计划项目为背景，研究影响芯片可靠性因素，研究芯片缺陷、故障、差错容忍的技术和方法，以及自测试，自诊断和自修复的技术及方法。项目的研究目标是在2010年实现单片亿万次原型芯片。

最后，李晓维与在座师生进行了真诚的交流。“为什么您会选择您现在的研究方向？”“人工智能与芯片测试的联系是什么？”“研究生阶段应该做哪些积累？”等问题都得到了圆满的解答。在一片热烈的掌声中，报告会拉下帷幕。

与会者纷纷表示，在报告会中，他们了解了芯片测试技术的科技前沿，发展动态，对他们的事业与学业的发展有很大的意义。